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堆叠微导通孔、弱界面的可靠性研究

Marc Carter在IPC高可靠性论坛上做了关于《堆叠微导通孔/弱界面可靠性研究》的演讲。本文总结了Marc的演讲文稿,列出了其中的一些重点,以方便读者更清晰地了解演讲内容。 Marc Ca ...查看更多

异构集成路线图HIR——汽车篇

近日,Nolan Johnson和Andy Shaughnessy采访了Advanced Semiconductor Engineering公司的Rich Rice,共同探讨了IEEE正在开发的异构集 ...查看更多

异构集成路线图HIR——汽车篇

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智能工厂将导致测试与检验的间接消亡

如果测试和检验仅仅是为了检测缺陷,充其量就是提供了一个过滤器,为提高产品在市场上的可靠性而采取行动——有效地对制造中的错误和弱点做出反应或为产品不足进行修改,那么测试和检验所起 ...查看更多

桩深事业稳·基实松柏兴——珠海松柏一期项目今日奠基

11月26日的富山,天清气爽,热情似火,松柏集团迎来了珠海松柏一期项目的奠基盛典。参加此次奠基的领导有:珠海市富山工业园区管委会客主任、投促中心赵主任,环保局梁局长,经发局李局长,中国 ...查看更多

Sunstone Circuits:发展路线图的实用性和协作性

近日,本刊采访了Sunstone Circuits公司的销售和市场营销副总裁Matt Stevenson,他同时兼任Design007专栏作家。Sunstone Circuits是一家PCB样板制造商 ...查看更多

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